Microscòpies de Sonda Local
Codi: 43441 Crèdits: 6| Titulació | Tipus | Curs |
|---|---|---|
| Nanociència i Nanotecnologia Avançades / Advanced Nanoscience and Nanotechnology | OT | 0 |
Professor/a de contacte
- Nom:
- Javier Rodríguez Viejo
- Correu electrònic:
- javier.rodriguez@uab.cat
Equip docent
- (Extern) Aitor Mugarza
- (Extern) Albert Verdaguer
- (Extern) Esther Barrena
- (Extern) Pedro Merino
Idiomes dels grups
Podeu consultar aquesta informació al final del document.
Prerequisits
Coneixements bàsics de Física i Química
Objectius
Adquirir els coneixements necessaris per comprendre els fonaments i les capacitats avançades dels diferents microscopis de sondes d'escombrat (SPM) rellevants per a la nanociència i la nanotecnologia.
Competències
- Dominar la terminologia científica i desenvolupar l'habilitat d'argumentar els resultats de la recerca en el context de la producció científica, per comprendre i interactuar eficaçment amb altres professionals.
- Identificar les tècniques de caracterització i anàlisi pròpies de la nanotecnologia i conèixer-ne els fonaments, dins de l?especialitat pròpia.
- Que els estudiants sàpiguin aplicar els coneixements adquirits i la seva capacitat de resolució de problemes en entorns nous o poc coneguts dins de contextos més amplis (o multidisciplinaris) relacionats amb la seva àrea d'estudi.
- Que els estudiants sàpiguin comunicar les seves conclusions, així com els coneixements i les raons últimes que les fonamenten, a públics especialitzats i no especialitzats d'una manera clara i sense ambigüitats
- Que els estudiants tinguin les habilitats d'aprenentatge que els permetin continuar estudiant, en gran manera, amb treball autònom a autodirigit
Resultats d'aprenentatge
- Analitzar críticament la validesa de resultats obtinguts mitjançant SPM.
- Conèixer la variant de microscòpia de sonda local adequada segons la propietat que es vulgui estudiar.
- Dominar la terminologia científica i desenvolupar l'habilitat d'argumentar els resultats de la recerca en el context de la producció científica, per comprendre i interactuar eficaçment amb altres professionals.
- Que els estudiants sàpiguin aplicar els coneixements adquirits i la seva capacitat de resolució de problemes en entorns nous o poc coneguts dins de contextos més amplis (o multidisciplinaris) relacionats amb la seva àrea d'estudi.
- Que els estudiants sàpiguin comunicar les seves conclusions, així com els coneixements i les raons últimes que les fonamenten, a públics especialitzats i no especialitzats d'una manera clara i sense ambigüitats
- Que els estudiants tinguin les habilitats d'aprenentatge que els permetin continuar estudiant, en gran manera, amb treball autònom a autodirigit
- Utilitzar el microscopi de forces atòmiques en les funcionalitats bàsiques.
- Valorar les especificitats dels processos fisicoquímics que tenen lloc en superfícies.
Continguts
Contingut:
1. Introducció als conceptes bàsics de la ciència de la superfície: Cristal·lografia, adsorció i difusió, pel·lícules primes, interaccions intermoleculars.
2.Introducció al buit i a les condicions criogèniques.
3.Introducció a la Microscòpia de Força Atòmica. Concepte general de Microscopia amb sonda de rastreig (SPM) i comparació de l'AFM amb altres mètodes SPM. Antecedents històrics de AFM.
4. Mode de contacte AFM. Principis bàsics. Imatges i corbes de força. Contrast de fricció.
5. Mode dinàmic AFM. Principis bàsics de la modulació d'amplitud i de la modulació de freqüència. Imatges i corbes d'amplitud. Règims d'interacció i funcionament sense contacte vs. contacte intermitent. Contrastos de desplaçament de fase i dissipació. AFM multifreqüència.
6. Forces de llarg abast amb AFM. Forces electrostàtiques en AFM. Microscòpia de força amb sonda Kelvin. Microscòpia de força magnètica. imatges
7.Altres mètodes. Piezorespuesta AFM. Detecció de corrent AFM. Mesura de forces intermoleculars. Forces d'adhesió i nanoindentació.
8.Asuntos pràctics: Artefactes d'imatge, convolució de puntes i altresefectes. Problemes amb els escàners piezoelèctrics.
9.Introducción a la Microscòpia de rastreig de túnels: Imatges d'alta resolució
10.Medidas espectroscòpiques amb STM, manipulació atòmica.
11.Electroquímica STM
Activitats formatives i Metodologia
| Títol | Hores | ECTS | Resultats d'aprenentatge |
|---|---|---|---|
| Tipus: Dirigides | |||
| Classes magistrals | 32 | 1,28 | 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8 |
| Laboratori | 6 | 0,24 | 1, 2, 4, 7 |
| Temps personal d'estudi | 64 | 2,56 | 6 |
| Tipus: Supervisades | |||
| Cerca de bibliografia/lectura articles | 20 | 0,8 | 6 |
| Presentació Oral | 8 | 0,32 | 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8 |
| Tipus: Autònomes | |||
| Informes escrits | 20 | 0,8 | 3, 5, 6 |
Conferències, taller de laboratori, informe escrit i presentació oral
Nota: es reservaran 15 minuts d'una classe, dins del calendari establert pel centre/titulació, perquè els alumnes completin les enquestes d'avaluació de l'actuació del professorat i d'avaluació de l'assignatura.
Avaluació
Activitats d'avaluació continuada
| Títol | Pes | Hores | ECTS | Resultats d'aprenentatge |
|---|---|---|---|---|
| Informe escrit | 40% | 0 | 0 | 2, 3, 4, 6, 8 |
| Participació | 10% | 0 | 0 | 1, 2, 4, 7 |
| Presentacions Orals | 50% | 0 | 0 | 3, 5, 6 |
Al final del curs l'estudiant ha de lliurar un informe escrit (10 pàgines) i fer una presentació oral de 5 minuts. La participació en conferències i tallers de laboratori també es tindrà en compte per a la puntuació final.
Bibliografia
Es farà esment a llibres i articles importants durant les classes. Tot opcional.
Programari
Es fa servir programari d'ecdició per presentació de material docent
Grups i idiomes de l'assignatura
La informació proporcionada és provisional fins al 30 de novembre de 2025. A partir d'aquesta data, podreu consultar l'idioma de cada grup a través daquest enllaç. Per accedir a la informació, caldrà introduir el CODI de l'assignatura
| Nom | Grup | Idioma | Semestre | Torn |
|---|---|---|---|---|
| (TEm) Teoria (màster) | 1 | Anglès | primer quadrimestre | matí-mixt |